LA-S植物根系图像分析系统
用途：LA-S植物根系图像分析系统用于对洗净的植物根系进行多参数快速分析。采用全球统一标准，可精确、快速对根系进行分析处理，广泛应用于农业、林业、气象等部门。
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技术规格：
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硬件规格 |
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光学分辨率 |
4800×9600 dpi |
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最大分辨率 |
65535×65535 dpi |
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拍摄箱 |
封闭/半封闭式扫描、无直射强光干扰 |
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最大分析测量面积 |
最大分析面积356 mm × 216 mm，如果配合根盘使用分析面积为300 mm × 200 mm |
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分辨的最小尺寸 |
0.008 ×0.008 mm |
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图像分析测量精度 |
X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25% |
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长度测量重现性误差 |
<±0.25% |
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面积测量重现性误差 |
<±0.25% |
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台间测量差异 |
<±0.25% |
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测量总时间 |
30~60秒 |
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软件功能 |
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分析测量 |
根总长；根平均直径；根总面积；根总体积；根尖计数；分叉计数；交叠计数；根直径等级分布参数；可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积及其分布参数；根尖段长分布；能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积；能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，可单独自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等；可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（分档数、档直径范围任意可改；能进行根的分叉裁剪修正，修正操作能回退，以快速获得100%正确的结果。精度：根长≤±1%；面积：优质图像质量时<1%，标准图像质量时≤3%；匹配专门的双光源照明系统，提供高分辨率的彩色或黑白图像，去除了阴影和不均匀现象的影响，有效保证图像质量；采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等，可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG标准格式的图像。 |
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人工辅助修正 |
图像可放大缩小和局部观察，可实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助裁剪或橡皮擦修正 |
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统计效果监视 |
监视和修正植物对象分析的精度 |
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自动杂质剔除 |
根据尺寸等方面的区别，进行自动杂质剔除 |
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辅助测量功能 |
尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量； |
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数据报表导出 |
分析结果能导出到Excel表，以便存档和统计。还可输出分析标记图，以便发表论文用 |
产地：中国
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